軸鍛件的探測轉(zhuǎn)子軸一般應(yīng)在鍛坯經(jīng)粗加工后，即進行全面探測，否則成品形狀復(fù)雜不易探測。轉(zhuǎn)子軸以一定的轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn)，即可作周向連續(xù)探測。這時要區(qū)別固定波形和游動波形，即注意觀察缺陷波在熒光屏?xí)r間軸上的游動和幅度變化的情況。當(dāng)缺陷面積較大又處于軸中心孔附近時，容易產(chǎn)生游動波形，即探頭相對沿軸的圓周方向移動時，缺陷波在底波(中心孔反射波)前后游動且幅度變化。

  一般地說，切向缺陷的反射波是不游動的，稱固定波形;徑向缺陷的反射波是游動的，稱游動波形。當(dāng)探頭在有切向缺陷的轉(zhuǎn)子軸的圓周上相對移動時，熒光屏上可獲得位置較固定的缺陷波，缺陷波只在底波之前移動，其移動范圍甚小，只有一個波幅高值，在高值后波幅逐漸降低，直至消失。當(dāng)探頭在有徑向缺陷的轉(zhuǎn)子軸的圓周上相對移動時，缺陷波在底波前后游動范圍較大，在底波之前和之后都有消失點，并有二個波幅高值(二個高值出現(xiàn)在熒光屏的同一位置上)。探測時，也可用直探頭和斜探頭，同時進行。

  當(dāng)轉(zhuǎn)子軸運轉(zhuǎn)一階段后需探側(cè)時，則要采用專門的中心孔\探頭在軸的內(nèi)孔進行。用斜探頭來探測孔壁上的徑向及橫向缺陷;用直探頭來探測縱向缺陷，還可用表面波探頭來探測軸孔表面上的徑向或橫向缺陷。用這種方法，可以監(jiān)視轉(zhuǎn)子軸內(nèi)部缺陷的發(fā)展。探頭可由機械傳動裝置旋轉(zhuǎn)送入孔內(nèi)，一般探頭架上有二個斜探頭以探測近內(nèi)孔的缺陷，并有二個直探頭以探測遠距離的缺陷以及監(jiān)視底波訊號。此法適用于探測內(nèi)孔直徑大于60毫米的轉(zhuǎn)子軸。